以CH_2和LiH为例验证分子的洪特多重度规则

以CH2和Li H分子为例,采用DFT/3-21+G*方法和基组,在垂直和绝热跃迁约束条件下,优化了它们的分子构型;计算了电子组态相同,而自旋态不同的分子(低自旋和高自旋态)物种的最低单点能量。结果发现,无论在垂直还是绝热变化过程,也不论化学键距变化的多少,总会存在分子的洪特多重度关系:高自旋态轨道能总会比其低自旋态的轨道能量更低,也更为稳定。     

基于压缩近邻的查重元数据去冗算法设计

随着重复数据删除次数的增加,系统中用于存储指纹索引的清单文件等元数据信息会不断累积,导致不可忽视的存储资源开销。因此,如何在不影响重复数据删除率的基础上,对重复数据删除过程中产生的元数据信息进行压缩,从而减小查重索引,是进一步提高重复数据删除效率和存储资源利用率的重要因素。针对查重元数据中存在大量冗余数据,提出了一种基于压缩近邻的查重元数据去冗算法Dedup2。该算法先利用聚类算法将查重元数据分为若干类,然后利用压缩近邻算法消除查重元数据中相似度较高的数据以获得查重子集,并在该查重子集上利用文件相似性对数据对象进行重复数据删除操作。实验结果表明,Dedup2可以在保持近似的重复数据删除比的基础上,将查重索引大小压缩50%以上。     

基于开关管阻抗特性的调制组件检测方法

介绍了全固态调制器采用IGBT 管等固态器件进行串并联组合应用的典型工作模式,分析了固态调制器传统开关组件的检测和保护技术,提出基于开关管阻抗特性的调制组件检测方法,阐述了设计思想及工作原理,给出了工程实现方案和检测方法原理框图,并分析比较了传统的在线检测方法和基于开关管阻抗特性的调制组件检测方法,基于PLC 编程软件平台,根据采样电压的数值及其变化量,实现精确判定IGBT 管损坏数量和百分比的计算。工程应用验证了检测结果的准确可靠。     

大功率脉冲测量雷达应对电压跌落方法研究

针对交流电源短暂电压跌落引起市电直供的大功率脉冲测量雷达伺服、发射机和水冷系统保护停机的问题,叙述了雷达系统组成及对应功率容量。分析了采用双变换不间断电源和市电同时向伺服系统、发射机及水冷系统的低压控制电路和大功率部件区别供电的可行性。提出了改进分机低压控制线路和可编程逻辑控制器控保逻辑的建议,提高了雷达系统抵抗电压短暂跌落的能力。     

HDP介质淀积引起的新天线效应及损伤机理

超大规模集成电路设计和制造过程中,基于栅氧化层击穿的天线效应已得到广泛研究.从一个数模转换电路的漏电失效案例分析着手,利用电性分析、物理失效分析、工艺排查结合电路设计分析等手段,研究了一种与栅氧化层无关的天线效应.结果发现这种新的天线效应发生在高密度等离子体淀积介质层的工艺过程中,相邻金属互连长导线因不同的接地方式而具有不同的电势差,造成金属互连导线间的击穿和漏电.同时给出了该种天线效应的解决方案,该结果为半导体工艺设计规则制定提供了新的参考.     

基于高非线性Sagnac干涉仪的超高速全光NOT门可级联性研究

在未来的通信领域中,全光逻辑门是全光计算机和全光网络的基本单元。目前已经提出了很多实现全光逻辑门的结构和方法,但是全光逻辑的技术瓶颈也出现了,就是怎样能够将单个的全光逻辑门级联起来实现更复杂的逻辑关系。现存的全光逻辑门结构一般不具有很好的可以实现多级连接的级联性,而且现有的对于级联性的分析大都停留在理论层面,而没有与实际情况相结合,所以对于实际应用来说意义很小。提出了一种新型的基于高非线性Sagnac 干涉仪的超高速全光NOT 门,建立了它的数学模型,采用了与实际情况更加接近的高斯脉冲模拟输入光,并且在仿真结果的基础上分析了系统的级联性,对级联性的分析考虑了光纤损耗和走离效应的影响。得到的基本结论表明,所提出的全光逻辑门的结构能够在实际情况下保持良好的级联性。     

全光加密 A?B 逻辑门的实验研究

针对光传输系统单波长信号全光加密的应用需求,基于流密码体制开展了光传输系统物理层全光加密技术的理论分析,设计了基于 SOA-XGM(半导体光放大器-交叉增益调制)的全光 A?B 逻辑门的实验方案,并在实验室搭建了实验系统。实现了速率为10 Gbit/s 的 A?B 逻辑处理,分析了探测光信号功率、泵浦光信号功率和 SOA 注入电流等主要参数对逻辑门输出信号质量的影响,实现了明文光信号的全光加密。     

提升LED驱动芯片视觉刷新率的逻辑电路设计

为了提升LED显示屏的画面质量,设计了能提高LED显示屏视觉刷新率的逻辑电路。该电路将一个显示周期分为32段,每一段包含有128个灰度时钟周期,占空比由12位灰度数据控制。逻辑电路产生的PWM和传统的PWM相比能提高视觉刷新率,最高能将视觉刷新率提高至32倍;能弥补S-PWM( Scrambled-PWM)在灰度数据低时视觉刷新率低的不足。在Cadence软件下进行设计仿真,并在开发板上进行了验证设计的可行性。     

FPGA在边缘检测中的应用

主要探讨FPGA在边缘检测中的运用,分析两种不同边缘检测算子对图像处理的效果。由于FPGA算法硬件处理速度快、可编程、可重配置等特性,使其在图像处理方面占有很大的优势。为此文章提出了运用FPGA实现边缘检测的方法,并且根据FPGA的并行流水线性,对Sobel、Prewitt边缘检测算子分别进行了FPGA设计与实现以及仿真,并且对两种边缘检测算子对图像处理的效果进行了比较。通过仿真分析得出,Sobel和Prewitt边缘检测算子都有平滑噪声的作用,Sobel边缘检测算子可以提供较为准确的边缘方向信息,Prewitt边缘检测算子,其边缘性较Sobel边缘检测算子完整,但它们的边缘定位精度有待提高,仿真中通过改变程序中的阈值可以得到不同的处理效果,这也是利用FPGA的优点,方便容易、速度也得到了提高,并且可编程、可重配置,使得FPGA在数字图像处理方面显得非常优越。     

数字电路抗单粒子瞬态效应的最小尺寸设计

随着体硅CMOS电路工艺的不断缩小,数字电路在空间中使用时受到的单粒子效应越发严重。特别是高频电路,单粒子瞬态效应会使电路功能完全失效。提出了一种基于电路尺寸计算的抗单粒子瞬态效应的设计方法,主要思想是通过辐射对电路造成的最坏特性,设计电路中MOS管的尺寸,使电路在系统开销和降低软错误率之间达到一个平衡。从单粒子效应电流模型入手,计算出单粒子效应在电路中产生的电荷数,得出为抵消单粒子效应产生的电荷需要多大的电容,再折算到器件电容上,最终得到器件的尺寸。此工作为以后研制抗辐射数字电路奠定了基础,提供了良好的借鉴。